這是一篇關于使用示波器進行電磁干擾（EMI）調試的應用指南文章，主要介紹了EMI問題的基本原理、測量方法以及如何使用R&S?RTO6示波器進行EMI調試。文章通過一個實際的IP電話案例，展示了如何利用近場探頭和電流探頭來定位和分析EMI問題。以下是對這些核心內容的簡要概述：

1. 電磁干擾（EMI）問題的基本原理：

干擾源：現代數字電路使用高頻方波信號，開關模式電壓轉換器也是干擾源之一。

耦合機制：干擾信號通過公共阻抗、電場、磁場或電磁場耦合到發射元件。

發射元件：如連接線、印刷電路板走線、內部電纜、組件和散熱片等無意天線。

2. EMI問題的測量方法：

近場和遠場：遠場測量用于法規符合性測試，近場測量用于定位干擾源。

RFI電流和電壓測量：測量連接線上的RFI電流和電源線上的RFI電壓。

電流探頭：用于測量RFI電流，選擇合適的探頭內徑和頻率響應。

近場探頭：用于測量電場和磁場，定位干擾源和分析去耦機制。

3. 使用示波器進行EMI調試的實踐方面：

基本步驟：包括參考測量、RFI電流測量、近場測量和評估可能的糾正措施。

R&S?RTO6示波器的設置：包括基本設置和特殊功能，如高采集帶寬、疊加FFT、門控FFT和頻率掩模觸發。

調試技巧：避免過載，監控時域信號，調整垂直靈敏度。

4. IP電話EMI調試實例：

遠場分析結果：確定了250MHz和375MHz等關鍵頻率的干擾。

RFI電流測量：在連接的LAN線和聽筒線上測量RFI電流，確定了主要發射元件。

近場分析：使用近場探頭定位干擾源，如處理器、RGMII接口、LAN PHY和主轉換器。

調試結果：通過濾波、終端措施、布局更改等方法顯著降低了RFI發射。

5. 總結：

示波器成為產品開發中調試EMI問題的有力工具。

本文通過理論和實踐指導，展示了如何有效分析并解決EMI問題。

這篇文章為在產品開發過程中使用示波器進行EMI調試提供了詳細的指導和案例分析，通過實際的操作步驟和具體實例，展示了如何有效地定位和分析EMI問題，并采取相應的解決措施。