無論做納米發(fā)電機(jī)還是測試硅片材料,無疑會用到源表或者靜電計,很多人不知道該選源表還是靜電計,今天來跟大家分享一下,怎么選擇最合適的儀器。

　　首先來說一下他們的功能,確認(rèn)一下哪種儀器的功能能滿足需要。

　　靜電計可以測試電壓電流電阻和電荷,并且輸出最高±1000V的電壓。他只能實現(xiàn)單通道測量。

　　源表可以輸出電壓或電流,同時可以測試電壓,電流,電阻和功率。

　　兩者對比,靜電計多一個測量電荷的功能,源表多了一個電流輸出的功能。

　　如果單純的只需要測試電壓,電流,電阻,或者輸出電壓測試電流,那么這兩者都可以滿足。就要看被測件的參數(shù)了。

　　靜電計一般稱為飛安表,可以測量到飛安級別的電流,源表測量到nA左右,如果被測電流是皮安或者飛安,建議用靜電計,如果是大于nA,那么兩種儀器都能用。

　　不過靜電計有個特殊的功能,在做納米發(fā)電機(jī)等應(yīng)用的時候有很重要。源表的采樣率只有幾kSa/S左右,被測信號變化特別快的時候,源表無法正確捕獲到信號的峰值和變化趨勢。靜電計本身的采樣率也比較低,但是它的后面板有一個模擬輸出接口,可以把采集到的電壓,電流電阻或電荷通過模擬輸出按比例轉(zhuǎn)化成電壓信號輸出,類似于把靜電計當(dāng)作一個傳感器,輸出后接到萬用表或示波器上都行,這時候信號的采樣率就取決于萬用表或者示波器的采樣,可以實現(xiàn)高采樣,既可以測試小信號,也可以實現(xiàn)高采樣。

　　源表也有它的優(yōu)勢,半導(dǎo)體測試,雙通道源表可以實現(xiàn)三端器件的測量,測試半導(dǎo)體器件的轉(zhuǎn)移曲線,特性曲線等是非常方便的。

　　針對微弱電流,高阻,電荷,或者高速脈沖測量撥入納米發(fā)電機(jī)類的實驗,選擇靜電計更合適,而半導(dǎo)體器件,三端口器件等,IV曲線測試用源表更合適。