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CH-8|8"~12"綜合性分析探針臺測試系統
特點/應用
◆最大可用于12英寸以內樣品測試
◆同軸絲杠傳動結構，線性移動
◆大手柄驅動，操作舒適，無回程差設計
◆針座平臺快速、微調升降功能
◆可搭配多種類型顯微鏡
◆晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
◆結構模塊化設計，可無縫升級
◆探針臺可根據客戶要求定制。
可選附件：加熱臺顯示器轉接頭射頻測試配件屏蔽箱光學平臺鍍金卡盤光電測試配件高壓測試配件顯微鏡快速傾仰裝置激光系統探針卡夾具
規格及設計如有更改，恕不另行通知。
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